半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析

其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估

磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性

液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性

測試電橋參數 

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 

測試頻率 20 Hz～2MHz,10mHz步進 

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV） 

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV) 

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 

基本準確度 0.1% 

 L 0.0001 uH ～ 9.9999kH 

 C 0.0001 pF ～ 9.9999F 

 R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ 

公司以精美的產品、精良的品質、精心的服務贏得了廣大用戶和市場，擁有一大批國內外科研院所及企業用戶。

服務：具有完備的售后服務體系

技術：自主研發+高校實驗室聯合開發

品質：對產品的精益追求+嚴格規范的測試

價格：科學的管理成本+高效率合作降低成本

客戶：大中院校+科研機構+質檢部門+實驗室等

GCSTD-D高低頻介電常數分析儀

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電壓或電流的自動電平調整（ALC）功能

V、1測試信號電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設定可供儲存／讀取

GCSTD-D高低頻介電常數分析儀